Κατάλογος Μαθημάτων

Πληροφορίες μαθήματος: Ηλεκτρονική Μικροσκοπία


Στην ιστοσελίδα αυτή παρουσιάζουμε πληροφορίες για το μάθημα Ηλεκτρονική Μικροσκοπία, του Τμήματος Φυσικής, με βάση τον οδηγό σπουδών του Τμήματος.
Ο κατάλογος με τα προσφερόμενα μαθήματα του τρέχοντος ακαδημαϊκού έτους βρίσκεται εδώ.
Ο κατάλογος με πληροφορίες για όλα τα μαθήματα του Τμήματος βρίσκεται εδώ.

ΚωδικόςΦ-277
ΤύποςΓ
ECTS6
Ώρες4
ΕξάμηνοΧειμερινό
Διδάσκων/-οντεςΒ. Μπίνας
ΠρόγραμμαΔευτέρα, 13:00-15:00, Αμφιθέατρο Β
Παρασκευή, 11:00-13:00, Αίθουσα 3
Ιστοσελίδαhttp://ph277.edu.physics.uoc.gr
Σκοπός ΜαθήματοςΤο Μάθηµα της Η/Μ αποσκοπεί στο να εισαγάγει του φοιτητές του Τµήµατος Φυσικής και όχι µόνο, στις βασικές έννοιες της ηλεκτρονικής µικροσκοπίας ξεκινώντας µε θέµατα γεωµετρικής και φυσικής οπτικής και καλύπτοντας θέµατα όπως δοµή και λειτουργία των µικροσκοπίων Σάρωσης, Διέλευσης και Ατοµικών Δυνάµεων, δηµιουργία κενού και βασικών αρχών σχηµατισµού ειδώλων. Περιλαµβάνει κεφάλαια ποιοτικής και ποσοτικής ανάλυσης, περίθλασης ηλεκτρονίων και µεθόδου ZAF. Αναπόσπαστο κοµµάτι του µαθήµατος είναι µια σειρά επισκέψεων στα εργαστήρια και ενεργή συµµετοχή των φοιτητών σε θέµατα παρασκευής και ανάλυσης δειγµάτων.
Διδακτέα ΎληΓενικές αρχές: Γεωµετρική και Φυσική Οπτική – Είδωλα – Φακοί – Απλό και σύνθετο µικροσκόπιο - Διαφράγµατα– Δίσκοι Airy – Διακριτική Ικανότητα.
Η εξέλιξη του µικροσκοπίου: Η/Μ Ακτινοβολία – Κύµατα Ηλεκτρονίων – Μικροσκόπιο ακτίνων Χ – µαγνητικοί φακοί.
Είδη ηλεκτρονικών µικροσκοπίων: ΤΕΜ. ΤΕΜ/R. STEM. SEM. EXMA. Φωταύγεια. Μικροσκόπια εκποµπής ηλεκτρονίων και ιόντων.
Ιδιότητες µαγνητικών φακών: Δοµή Υστέρηση – Εκτροπές φακών (Σφαιρική – Αλλοίωση – Περιστροφή – Αστιγµατισµός – Χρωµατισµός). Βάθος πεδίου και βάθος εστίασης.
Σχηµατισµός ειδώλου και αντίθεση: Προετοιµασία δείγµατος – Διαδικασία σχηµατισµού ειδώλου – Σκέδαση – Πυκνότητα µάζας – Απορρόφηση – Διαφράγµατα – Θόρυβος
Θεωρία κενού: Βασικές παραδοχές της κινητικής θεωρίας των αερίων – Εφαρµογή κινητικής θεωρίας – Λειτουργία αντλιών – Τεχνολογία κενού – Εξίσωση συνεχείας – Όργανα µέτρησης – Σχεδιασµός ενός συστήµατος κενού.
Σύγχρονο Η.Μ. διέλευσης: Εισαγωγικά – Φυσικά διαφράγµατα – Φακοί – Συστήµατα απεικόνισης
Δοµή κρυστάλλων: Μελέτη Δοµών – Συστήµατα κρυστάλλωσης Bravais. Δείκτες Miller. Αντίστροφα πλέγµατα – Ατέλειες
Περίθλαση ηλεκτρονίων: Νόµος Bragg – Μέθοδοι απεικόνισης και ανάλυσης – Προσδιορισµός δοµών – Ατέλειες δοµών – Ενδοεπιφανειών και υπέρλεπτων υµενίων
Σύγχρονο Η.Μ. σάρωσης: Εισαγωγικά – Προετοιµασία δειγµάτων – Προετοιµασία δειγµάτων – Μέθοδοι ανάλυσης – Αντίθεση φάσης – Μέθοδος ΕΒΙC – Εφαρµογές
Εισαγωγή στη µικροανάλυση ακτίνων-Χ: Αρχές – Παραγωγή ακτίνων – Χ Φάσµα – Χαρακτηριστικές γραµµές – Τοπογραφία – Ανίχνευση ακτίνων Χ (WDS, EDS) – Διαδικασία ανάλυσης και προβλήµατα.
Ποιοτική και ποσοτική µικροανάλυση (Μέθοδος ZAF): Ενεργειακά φάσµατα – Παράγοντες Κa, Κz, Kf Ποσοτική ανάλυση – Μέθοδος ΖΑF – Εφαρµογές Το µάθηµα συµπληρώνεται µε (2) δύο Εργαστήρια άσκησης και εφαρµογές σε τεχνικές προετοιµασίας δειγµάτων για την παρατήρηση µε SEM και TEM (Επικάλυψη, οπτική παρατήρηση κλπ). Η άσκηση αφορά τόσο την επαφή µε ένα Η/Μ SEM όσο και αντίστοιχο τύπου ΤΕΜ και AFM.
Βιβλιογραφία«Practical Electron Microscopy» – V.E. Cosselt, Butterworths, London (1951)
«Introduction to Electron Microscopy» - C.E. Hall, McGraw – Hill, New York, (1966)
«A Beginner’s Handbook in Electron Microscopy» – B.S. Waekley, Churchill, Living – stone, Ediburgh, UK (1972)
«Prinnciples and Techniques of Electron Microscopy» – M.A. Hayat, v.1. Van Nostrand- Reinhold, New York and London, (1974)
«Practical Electron Microscopy» – G.A. Meck, J. Willey & Sons, UK (1981)

Πανεπιστήμιο Κρήτης - Τμήμα Φυσικής - Πανεπιστημιούπολη Βουτών - GR-70013 Βασιλικά Βουτών, Ελλάδα
τηλ: +30 2810 394300 - fax: +30 2810 394301